Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist eine Methode, die bei der Untersuchung von Leder, Kollagen oder Kunststoffen oft eingesetzt wird, wenn eine lichtmikroskopische Abbildung aus verschiedenen Gründen nicht ausreichend ist.

Das ist insbesondere dann der Fall, wenn eine höhere Auflösung notwendig ist. Weitere Vorzüge der Rasterelektronenmikroskopie sind die große Tiefenschärfe und die sehr kontrastreiche Abbildbarkeit von Oberflächenstrukturen. Auch bei der Untersuchung sehr dunkler Oberflächen oder transparenter Materialien ist sie vorteilhaft.

Seit April 1999 steht dem Institut ein modernes Rasterelektronenmikroskop (FEI Electron Optics) zur Verfügung.

Es erlaubt die mikroskopische Darstellung anorganischer und organischer Festkörper, wie z.B. von Folien, Pulvern, Leder und Häuten im Vergrößerungsbereich von etwa 10 bis 100 000 mit großer Tiefenschärfe und einer Auflösung von ca. 10 nm.

Bei diesem Gerät vom Typ XL 30 ESEM kann nicht nur im üblichen Hochvakuum, sondern auch in verdünnter Wasserdampfatmosphäre gearbeitet werden. Dadurch ist es möglich, auch ausgasende Proben (wie zum Beispiel Leder) ohne lange Vorbereitungs- bzw. Wartezeit zu untersuchen. Häufig brauchen die Proben nicht mehr vor der Beobachtung mit einer elektrisch leitfähigen Dünnschicht besputtert bzw. bedampft werden. Letzteres ist jedoch technisch auch bei Bedarf notwendig.

Im folgenden nun einige Anwendungs- und Bildbeispiele: