Spezialanalytik

Arbeitsgruppenleiter

"Von wissenschaftlicher Neugier angetrieben begeistern mich in meiner Tätigkeit als Leiter des Akkreditierten Prüflaboratoriums die regelmäßig wiederkehrenden Spannungsmomente. Sowohl im Rahmen anwendungsnaher Forschungs- und Entwicklungsarbeiten als auch im Zusammenhang mit Materialcharakterisierungen für Prüfdienstleistungen – das Untersuchen und Bewerten des zunächst Unbekannten, der verborgenen Materialeigenschaften kommen einem detektivischen Arbeiten gleich."


Dr. Sascha Dietrich

Leiter Akkreditiertes Prüflaboratorium

Spezialanalytik

Ergänzend zu den Standardprüfungen werden zahlreiche Sonder- und Spezialverfahren zur Schadens- und Fehleranalyse an den Materialklassen (Leder, Kollagenmaterialien, Lederfaserwerkstoffen, beschichtete Textilien, Textilien, Folien und Kunststoffen) durchgeführt.

Oberflächentopografie

Profilometrie (Taktile / Optische)

Anwendungsgebiete:

  •  Bestimmung von Rauheitskennwerten (2D / 3D)

  •  Analyse von Narbtiefen, -fehlern

  •  Ermittlung von Welligkeiten, Konturen

  •  Schichtdickenmessung

  •  Fehlerdiagnose, technologiebegleitende Untersuchungen

Geeignete Materialien:

  • alle Materialien (Leder, Kunststoffe, Textilien u. a.)

Geräte:

  • Streifenlichtprojektion

  • Konfokales Laserscanning Mikroskop

  • Shape from Shading -Technologie

  • Geräte mit Tastschnittverfahren in verschiedener Auflösung (nm bis µm)

Ihr Ansprechpartner:

Dr. Martin Strangfeld

Abteilung Oberflächen


Mikroskopie

Lichtmikroskopie

Anwendungsgebiete:

  • photographische Dokumentation,

  • mikroskopische Untersuchung von Proben (Oberfläche, Querschnitt, Dünnschnitt),

  • quantitative Bildauswertung/Statistik,

  • Schichtdickenmessung,

  • Fehlerdiagnose, technologiebegleitende Untersuchungen

Geeignete Materialien:

  • alle Materialien (Leder, Kunststoffe, Textilien u. a.)

Geräte:

  • Stereomikroskop

  • Auf- und Durchlichtmikroskop

  • Digitalkamera

 

Rasterelektronenmikroskopie (REM)

Anwendungsgebiete:

  • rasterelektronenmikroskopische Untersuchung (Auflösung etwa 10 nm),

  • Messung von Schichtdicken,

  • Fehlerdiagnose,

  • technologiebegleitende Untersuchungen

Geeignete Materialien:

  • alle Materialien, die vakuumbeständig sind oder begrenzten Dampfdruck haben, auch mikroskopisch kleine Proben

Geräte:

  • REM Quanta FEG 250

Ihr Ansprechpartner:

Antoaneta Trommer

Leiterin Arbeitsgruppe Schadensanalytik


Rasterkraftmikroskopie (Atomic-Force-Microscopy – AFM)

Anwendungsgebiete:

  • Bestimmung der nanoskaligen Rauheit

  • Analyse der mechanischen Eigenschaften vom Biomaterial bis zum Polymergemisch

  • Messung der Leitfähigkeit auf der Nanometerskala

Geeignete Materialien:

  • alle Materialien (von Metall über Keramik bis zum Biomaterial)

Geräte:

  • JPK NanoWizard 3 AFM

  • QI Software

  • Conductive AFM (CAFM)

  • Beheizbare Messzelle für Messungen an Luft und in Flüssigkeiten

Ihr Ansprechpartner:

Analytik und Spektroskopie

Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDX)

Anwendungsgebiete:

  • schnelle halbquantitative Elementanalytik bis etwa 0,1%,

  • Analyse von Oberflächen / auf Querschnitten,

  • lokale Analysen bis etwa 1 µm Auflösung

Geeignete Materialien:

  • alle Materialien, die vakuumbeständig sind oder begrenzten Dampfdruck haben, auch mikroskopisch kleine Proben

Geräte:

  • am Rasterelektronenmikroskop ESEM-REM

Ihr Ansprechpartner:

Antoaneta Trommer

Leiterin Arbeitsgruppe Schadensanalytik


Röntgenphotoelektronen­spektroskopie (XPS)

Anwendungsgebiete:

  • halbquantitative, standardfreie Elementanalytik bis etwa 0,1 at%

  • Analyse von Oberflächen, Signaltiefe nur etwa 5 bis 10 nm

  • Aussage über Bindungszustände möglich (z. B. polare / unpolare Anteile von Kohlenstoffbindungen)

  • zerstörungsfreie Aussagen über Tiefenverteilung mittels winkelabhängiger Messungen

  • Tiefenprofile durch schonenden Sputterabtrag (Bindungserhalt durch Einsatz von Clusterionen)

  • lokale Analyse möglich bis herab zu etwa 10 µm auf einer Fläche von 200 x 200 µm² (Imaging XPS)

  • großer Probentisch, Durchsatz von Probenserien effektiv möglich

Geeignete Materialien:

  • alle Materialien, die vakuumbeständig sind (nach Entgasen z. B. auch Leder, Polyamid)

Geräte:

  • modernes Röntgenphotoelektronenspektroskop AXIS Supra® mit Al/Ag monochromatischer Anode und Mg/Al Dualanode

Ihr Ansprechpartner:

Dr. Frauke Junghans

Abteilungsleiterin Oberflächen


UV/VIS-Spektroskopie

Anwendungsgebiete:

  • Untersuchung von Proben im Bereich des ultravioletten und sichtbaren Lichtes (190 nm bis 900 nm) bspw. Transmissionsmessungen

Geeignete Materialien:

  • Lösungen, Flüssigkeiten und Feststoffe

Geräte:

  • EVOLUTION 600 (Thermo Electron)


FTIR-Spektroskopie / -Mikroskopie

Anwendungsgebiete:

  • Untersuchung von Proben im mittleren Infrarot (2,5 µm bis 25 µm),

  • Identifizierung chemischer Gruppen, insbesondere auch auf Oberflächen,

  • Fehlerdiagnosen

  • Messung in Transmission, H-ATR

Geeignete Materialien:

  • Lösungen, Flüssigkeiten, Feststoffe

Geräte:

  • FTIR-Mikroskop Nicolet iN10 mit FT-IR Erweiterungsmodul

Ihr Ansprechpartner:

Dr. Ute Morgenstern

Leiterin Arbeitsgruppe Chemische Analytik | OEKO-TEX®

Weitere Untersuchungsmethoden auf AnfrageAkkreditiertes Prüflaboratorium


Kontakt

FILK Freiberg Institute gGmbH
Meißner Ring 1-5
D-09599 Freiberg

Fon: +49-(0)3731-366-0
Fax: +49-(0)3731-366-130
E-Mail: mailbox@filkfreiberg.de

Diese Website nutzt Cookies, um das beste Nutzererlebnis zu gewährleisten, um die Nutzung der Website zu analysieren und Datenschutzeinstellungen zu speichern. In unseren Datenschutzrichtlinien können Sie Ihre Auswahl jederzeit ändern.

Einstellungen verwalten Alle akzeptieren

Cookies und verwendete Technologien, die auf dieser Seite verwendet werden

Bitte wählen Sie JA oder NEIN für die betreffenden Kategorien.

Bitte wählen Sie, ob diese Website Cookies oder verwandte Technologien wie Web Beacons, Pixel Tags und Flash-Objekte ("Cookies") wie unten beschrieben verwenden darf. Sie können mehr darüber erfahren, wie diese Website Cookies und verwandte Technologien verwendet, indem Sie unsere untenstehende Datenschutzerklärung lesen.

Funktionale

Diese Cookies gewährleisten das korrekte Betreiben der Seite. Auch zustimmungsfreie Cookies oder First Party Cookies genant.

Zeige Informationen zu funktionalen Technologien und verwendeten Cookies
Nein Ja

Anbieter, die Cookies auf dieser Seite nutzen, werden nachfolgend aufgelistet. Wo dies möglich ist, können Sie der Nutzung von Cookies zustimmen.

Name Anbieter
Name: Nutzergesteuert
Anbieter: FILK Freiberg

Cookies, welche für die Grundfunktion unserer Seite benötigt und gesetzt werden.

Cookies
Name: TYPO3 Backend
Anbieter: FILK Freiberg

Cookies, welche für die Nutzung des TYPO3 Backendzugangs benötigt und gesetzt werden.

Cookies
Analytische Cookies

Diese Cookies sammeln anonyme Informationen über die Nutzungsweise einer Website, bspw. wie viele Besucher welche Seiten aufruft. Damit soll die Performance der Website und das Nutzererlebnis verbessert werden.

Zeige detailierte Informationen
Nein Ja

Anbieter, die Cookies auf dieser Seite nutzen, werden nachfolgend aufgelistet. Wo dies möglich ist, können Sie der Nutzung von Cookies zustimmen.

Name Anbieter
Name: Google Analytics
Anbieter: Google

Lorem ipsum dolor sit amet, consetetur sadipscing elitr, sed diam nonumy eirmod tempor invidunt ut labore et dolore magna aliquyam erat, sed diam voluptua. At vero eos et accusam et justo duo dolores et ea rebum. Stet clita kasd gubergren, no sea takimata sanctus est Lorem ipsum dolor sit amet. Lorem ipsum dolor.

Cookies
Einstellungen speichern