Spezialanalytik

Arbeitsgruppenleiter

"Von wissenschaftlicher Neugier angetrieben begeistern mich in meiner Tätigkeit als Leiter des Akkreditierten Prüflaboratoriums die regelmäßig wiederkehrenden Spannungsmomente. Sowohl im Rahmen anwendungsnaher Forschungs- und Entwicklungsarbeiten als auch im Zusammenhang mit Materialcharakterisierungen für Prüfdienstleistungen – das Untersuchen und Bewerten des zunächst Unbekannten, der verborgenen Materialeigenschaften kommen einem detektivischen Arbeiten gleich."


Dr. Sascha Dietrich

Leiter Akkreditiertes Prüflaboratorium

Spezialanalytik

Ergänzend zu den Standardprüfungen werden zahlreiche Sonder- und Spezialverfahren zur Schadens- und Fehleranalyse an den Materialklassen (Leder, Kollagenmaterialien, Lederfaserwerkstoffen, beschichtete Textilien, Textilien, Folien und Kunststoffen) durchgeführt.

Oberflächentopografie

Profilometrie (Taktile / Optische)

Anwendungsgebiete:

  •  Bestimmung von Rauheitskennwerten (2D / 3D)

  •  Analyse von Narbtiefen, -fehlern

  •  Ermittlung von Welligkeiten, Konturen

  •  Schichtdickenmessung

  •  Fehlerdiagnose, technologiebegleitende Untersuchungen

Geeignete Materialien:

  • alle Materialien (Leder, Kunststoffe, Textilien u. a.)

Geräte:

  • Streifenlichtprojektion

  • Konfokales Laserscanning Mikroskop

  • Shape from Shading -Technologie

  • Geräte mit Tastschnittverfahren in verschiedener Auflösung (nm bis µm)

Ihr Ansprechpartner:

Dr. Martin Strangfeld

Abteilung Oberflächen


Mikroskopie

Lichtmikroskopie

Anwendungsgebiete:

  • photographische Dokumentation,

  • mikroskopische Untersuchung von Proben (Oberfläche, Querschnitt, Dünnschnitt),

  • quantitative Bildauswertung/Statistik,

  • Schichtdickenmessung,

  • Fehlerdiagnose, technologiebegleitende Untersuchungen

Geeignete Materialien:

  • alle Materialien (Leder, Kunststoffe, Textilien u. a.)

Geräte:

  • Stereomikroskop

  • Auf- und Durchlichtmikroskop

  • Digitalkamera

 

Rasterelektronenmikroskopie (REM)

Anwendungsgebiete:

  • rasterelektronenmikroskopische Untersuchung (Auflösung etwa 10 nm),

  • Messung von Schichtdicken,

  • Fehlerdiagnose,

  • technologiebegleitende Untersuchungen

Geeignete Materialien:

  • alle Materialien, die vakuumbeständig sind oder begrenzten Dampfdruck haben, auch mikroskopisch kleine Proben

Geräte:

  • REM Quanta FEG 250

Ihr Ansprechpartner:

Antoaneta Trommer

Leiterin Arbeitsgruppe Schadensanalytik


Rasterkraftmikroskopie (Atomic-Force-Microscopy – AFM)

Anwendungsgebiete:

  • Bestimmung der nanoskaligen Rauheit

  • Analyse der mechanischen Eigenschaften vom Biomaterial bis zum Polymergemisch

  • Messung der Leitfähigkeit auf der Nanometerskala

Geeignete Materialien:

  • alle Materialien (von Metall über Keramik bis zum Biomaterial)

Geräte:

  • JPK NanoWizard 3 AFM

  • QI Software

  • Conductive AFM (CAFM)

  • Beheizbare Messzelle für Messungen an Luft und in Flüssigkeiten

Ihr Ansprechpartner:

Analytik und Spektroskopie

Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDX)

Anwendungsgebiete:

  • schnelle halbquantitative Elementanalytik bis etwa 0,1%,

  • Analyse von Oberflächen / auf Querschnitten,

  • lokale Analysen bis etwa 1 µm Auflösung

Geeignete Materialien:

  • alle Materialien, die vakuumbeständig sind oder begrenzten Dampfdruck haben, auch mikroskopisch kleine Proben

Geräte:

  • am Rasterelektronenmikroskop ESEM-REM

Ihr Ansprechpartner:

Antoaneta Trommer

Leiterin Arbeitsgruppe Schadensanalytik


Röntgenphotoelektronen­spektroskopie (XPS)

Anwendungsgebiete:

  • halbquantitative, standardfreie Elementanalytik bis etwa 0,1 at%

  • Analyse von Oberflächen, Signaltiefe nur etwa 5 bis 10 nm

  • Aussage über Bindungszustände möglich (z. B. polare / unpolare Anteile von Kohlenstoffbindungen)

  • zerstörungsfreie Aussagen über Tiefenverteilung mittels winkelabhängiger Messungen

  • Tiefenprofile durch schonenden Sputterabtrag (Bindungserhalt durch Einsatz von Clusterionen)

  • lokale Analyse möglich bis herab zu etwa 10 µm auf einer Fläche von 200 x 200 µm² (Imaging XPS)

  • großer Probentisch, Durchsatz von Probenserien effektiv möglich

Geeignete Materialien:

  • alle Materialien, die vakuumbeständig sind (nach Entgasen z. B. auch Leder, Polyamid)

Geräte:

  • modernes Röntgenphotoelektronenspektroskop AXIS Supra® mit Al/Ag monochromatischer Anode und Mg/Al Dualanode

Ihr Ansprechpartner:

Dr. Frauke Junghans

Abteilungsleiterin Oberflächen


UV/VIS-Spektroskopie

Anwendungsgebiete:

  • Untersuchung von Proben im Bereich des ultravioletten und sichtbaren Lichtes (190 nm bis 900 nm) bspw. Transmissionsmessungen

Geeignete Materialien:

  • Lösungen, Flüssigkeiten und Feststoffe

Geräte:

  • EVOLUTION 600 (Thermo Electron)


FTIR-Spektroskopie / -Mikroskopie

Anwendungsgebiete:

  • Untersuchung von Proben im mittleren Infrarot (2,5 µm bis 25 µm),

  • Identifizierung chemischer Gruppen, insbesondere auch auf Oberflächen,

  • Fehlerdiagnosen

  • Messung in Transmission, H-ATR

Geeignete Materialien:

  • Lösungen, Flüssigkeiten, Feststoffe

Geräte:

  • FTIR-Mikroskop Nicolet iN10 mit FT-IR Erweiterungsmodul

Ihr Ansprechpartner:

Dr. Ute Morgenstern

Leiterin Arbeitsgruppe Chemische Analytik | OEKO-TEX®

Weitere Untersuchungsmethoden auf AnfrageAkkreditiertes Prüflaboratorium


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