Arbeitsgruppenleiter
"Von wissenschaftlicher Neugier angetrieben begeistern mich in meiner Tätigkeit als Leiter des Akkreditierten Prüflaboratoriums die regelmäßig wiederkehrenden Spannungsmomente. Sowohl im Rahmen anwendungsnaher Forschungs- und Entwicklungsarbeiten als auch im Zusammenhang mit Materialcharakterisierungen für Prüfdienstleistungen – das Untersuchen und Bewerten des zunächst Unbekannten, der verborgenen Materialeigenschaften kommen einem detektivischen Arbeiten gleich."
Oberflächentopografie
Profilometrie (Taktile / Optische)
Anwendungsgebiete:
Bestimmung von Rauheitskennwerten (2D / 3D)
Analyse von Narbtiefen, -fehlern
Ermittlung von Welligkeiten, Konturen
Schichtdickenmessung
Fehlerdiagnose, technologiebegleitende Untersuchungen
Geeignete Materialien:
alle Materialien (Leder, Kunststoffe, Textilien u. a.)
Geräte:
Streifenlichtprojektion
Konfokales Laserscanning Mikroskop
Shape from Shading -Technologie
Geräte mit Tastschnittverfahren in verschiedener Auflösung (nm bis µm)
Ihr Ansprechpartner:
Mikroskopie
Lichtmikroskopie
Anwendungsgebiete:
photographische Dokumentation,
mikroskopische Untersuchung von Proben (Oberfläche, Querschnitt, Dünnschnitt),
quantitative Bildauswertung/Statistik,
Schichtdickenmessung,
Fehlerdiagnose, technologiebegleitende Untersuchungen
Geeignete Materialien:
alle Materialien (Leder, Kunststoffe, Textilien u. a.)
Geräte:
Stereomikroskop
Auf- und Durchlichtmikroskop
Digitalkamera
Rasterelektronenmikroskopie (REM)
Anwendungsgebiete:
rasterelektronenmikroskopische Untersuchung (Auflösung etwa 10 nm),
Messung von Schichtdicken,
Fehlerdiagnose,
technologiebegleitende Untersuchungen
Geeignete Materialien:
alle Materialien, die vakuumbeständig sind oder begrenzten Dampfdruck haben, auch mikroskopisch kleine Proben
Geräte:
REM Quanta FEG 250
Ihr Ansprechpartner:
Rasterkraftmikroskopie (Atomic-Force-Microscopy – AFM)
Anwendungsgebiete:
Bestimmung der nanoskaligen Rauheit
Analyse der mechanischen Eigenschaften vom Biomaterial bis zum Polymergemisch
Messung der Leitfähigkeit auf der Nanometerskala
Geeignete Materialien:
alle Materialien (von Metall über Keramik bis zum Biomaterial)
Geräte:
JPK NanoWizard 3 AFM
QI Software
Conductive AFM (CAFM)
Beheizbare Messzelle für Messungen an Luft und in Flüssigkeiten
Ihr Ansprechpartner:
Analytik und Spektroskopie
Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDX)
Anwendungsgebiete:
schnelle halbquantitative Elementanalytik bis etwa 0,1%,
Analyse von Oberflächen / auf Querschnitten,
lokale Analysen bis etwa 1 µm Auflösung
Geeignete Materialien:
alle Materialien, die vakuumbeständig sind oder begrenzten Dampfdruck haben, auch mikroskopisch kleine Proben
Geräte:
am Rasterelektronenmikroskop ESEM-REM
Ihr Ansprechpartner:
Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS)
Anwendungsgebiete:
halbquantitative, standardfreie Elementanalytik bis etwa 0,1 at%
Analyse von Oberflächen, Signaltiefe nur etwa 5 bis 10 nm
Aussage über Bindungszustände möglich (z. B. polare / unpolare Anteile von Kohlenstoffbindungen)
zerstörungsfreie Aussagen über Tiefenverteilung mittels winkelabhängiger Messungen
Tiefenprofile durch schonenden Sputterabtrag (Bindungserhalt durch Einsatz von Clusterionen)
lokale Analyse möglich bis herab zu etwa 10 µm auf einer Fläche von 200 x 200 µm² (Imaging XPS)
großer Probentisch, Durchsatz von Probenserien effektiv möglich
Geeignete Materialien:
alle Materialien, die vakuumbeständig sind (nach Entgasen z. B. auch Leder, Polyamid)
Geräte:
modernes Röntgenphotoelektronenspektroskop AXIS Supra® mit Al/Ag monochromatischer Anode und Mg/Al Dualanode
